Inspection
אפיון מתקדם של משטחים וחומרים
BINA מציעה מערך כלים עוצמתי לניתוח חומרים בקני מידה מיקרוניים וננומטריים, לרבות מיפוי טופוגרפיית פני שטח, מדידת עובי שכבות דקות, אפיון תכונות אופטיות וניתוח ההרכב היסודי.
המערכות מיועדות למחקר מתקדם בננו־חומרים, שכבות דקות, דגימות ביולוגיות וציפויים פונקציונליים.
שירותי האפיון שלנו מאפשרים אימות תוצאות, אופטימיזציה של תהליכים ופתרון תקלות ברמת דיוק גבוהה.
נשמח ללוות אתכם בשלב הבא של המחקר והפיתוח, צרו קשר - gr.biunano@biu.ac.il
