דילוג לתוכן העיקרי דילוג לתפריט ניווט ראשי
תפריט משני
אוניברסיטת בר-אילן
English
המכון לננו טכנולוגיה וחומרים מתקדמים אוניברסיטת בר-אילן
המכון לננו טכנולוגיה וחומרים מתקדמים
  • Linkedin
חיפוש
  • אודות
    • אודות המכון
    • מיקום ודרכי הגעה
    • הצוות שלנו
    • ועדה מדעית
    • דוחות שנתיים
  • מחקר
    • סגל אקדמי
    • פרסים לחוקרים
    • תחומי מחקר
      • ננו חומרים
      • אנרגיה
      • ביורפואה
      • אלקטרו מגנטיות וספינטרוניקה
      • פוטוניקה
      • קלינטק
      • ביוקונברג’נס
      • קוונטום
    • פרסומים מחקריים
    • מחקר פורץ דרך
  • תעשיה
    • תעשיה
    • השירותים שלנו
    • קשרי תעשייה וניהול פרויקטים
  • אירועים
    • אירועים
  • מרכז שירות
    • אפיון
      • Advanced Electron Microscopy Analysis
        • FIB
        • HR-SEM Magellan
        • HR-SEM Sigma
        • HR-TEM JemF200
        • SEM
        • TEM for Bio samples (120i)
      • AFM
        • AFM Icon
        • AFM Multimode V
        • Dimension FastScan Bio
      • Biological samples preparation
      • Contact Angle
      • Diffraction by X-Ray
      • IBA
        • ERDA
        • Ion channeling analysis
        • NRA
        • PIXE
        • RBS
        • Ion Implanter
      • Spectroscopy
        • RAMAN
        • Spectrophotometer
        • X-ray Fluorescence (XRF)
    • פבריקציה
      • Facility
      • Deposition
        • ALD
        • e-Beam Evaporation System
        • Ion Beam Sputtering System
        • PVD System
      • Lithography
        • E-Beam
        • High Resolution Laser Lithography
        • Mask Aligner
        • Maskless Laser Lithography
      • 3D Printing
        • 3D Bioprinter, BIO X6 Cellink
        • Nano Scribe
      • Etching
        • ICP-RIE
      • Inspection
        • LEXT 3D optical profiler
        • SEM (JSM-IT210)
        • Spectroscopic Reflectometer
        • Spectroscopic Ellipsometer
        • Stylus Profiler
        • XRF
      • Packaging
        • Dicing Saw
        • Wafer Bonder
      • What's new - Coming Soon
  • סטודנטים
    • קורסים
    • אירועי סטודנטים
    • טפסים
    • מלגות
    • סטודנטים שלנו בחדשות
  • יצירת קשר
יצירת קשר
מרכז שירות תפריט
  • אפיון
    • Advanced Electron Microscopy Analysis
      • FIB
      • HR-SEM Magellan
      • HR-SEM Sigma
      • HR-TEM JemF200
      • SEM
      • TEM for Bio samples (120i)
    • AFM
      • AFM Icon
      • AFM Multimode V
      • Dimension FastScan Bio
    • Biological samples preparation
    • Contact Angle
    • Diffraction by X-Ray
    • IBA
      • ERDA
      • Ion channeling analysis
      • NRA
      • PIXE
      • RBS
      • Ion Implanter
    • Spectroscopy
      • RAMAN
      • Spectrophotometer
      • X-ray Fluorescence (XRF)
  • פבריקציה
    • Facility
    • Deposition
      • ALD
      • e-Beam Evaporation System
      • Ion Beam Sputtering System
      • PVD System
    • Lithography
      • E-Beam
      • High Resolution Laser Lithography
      • Mask Aligner
      • Maskless Laser Lithography
    • 3D Printing
      • 3D Bioprinter, BIO X6 Cellink
      • Nano Scribe
    • Etching
      • ICP-RIE
    • Inspection
      • LEXT 3D optical profiler
      • SEM (JSM-IT210)
      • Spectroscopic Reflectometer
      • Spectroscopic Ellipsometer
      • Stylus Profiler
      • XRF
    • Packaging
      • Dicing Saw
      • Wafer Bonder
    • What's new - Coming Soon

Freeze -substitution Leica EM AFS2

Freeze-substitution (FS) is a process to replace ice crystals with an organic solvent containing fixatives. Subsequently, frozen tissue samples are embedded in plastic resin, revealing the morphology of cells and tissues closely resembling their native state.

Freeze -substitution Leica EM AFS2

תאריך עדכון אחרון : 16/02/2025


כניסה לעורכי האתר

'כל הזכויות שמורות: המכון לננו טכנולוגיה וחומרים מתקדמים | אוניברסיטת בר אילן רמת גן 5290002 | טלפון: 03-5317067' יצירת קשר

פיתוח: אגף תקשוב, אוניברסיטת בר-אילן
הצהרת נגישות מדיניות פרטיות
אקדימה בר-אילן
להרשמה ליום הפתוח מתעניינים בלימודים?
התקשר/י יצירת קשר מיקום